提供完善的DFT设计平台，帮助客户实现测试成本、测试质量优化提升。
为根据客户需求提供全流程定制化DFT服务。
IEEE 1686 iJTAG
IEEE 1149.1 boundary scan
Memory BIST
Scan compression
On-chip clock controller insertion
Test point insertion
Core wrapper insertion
基于Share_bus的Memory Bist
Memory repair
Memory bist diagnose
Memory bist soft_programe
IDDQ
MissionMode：IST/Lbist/Mbist
3rd-party IP bist test: loopback
Partition-good or Downgrading
